微納器件光譜響應(yīng)度測(cè)試系統(tǒng)

型號(hào)：iSpec-XSR400

iSpec-XSR400系列是一款專用于低維材料光電測(cè)試的系統(tǒng)。其功能全面，提供多種重要參數(shù)測(cè)試。系統(tǒng)集成高精度光譜掃描，光電流掃描以及光響應(yīng)速率測(cè)試。40μm探測(cè)光斑，實(shí)現(xiàn)百微米級(jí)探測(cè)器的絕對(duì)光譜響應(yīng)度測(cè)量。超高穩(wěn)定性光源支持長(zhǎng)時(shí)間的連續(xù)測(cè)試，豐富的光源選擇以及多層光學(xué)光路設(shè)計(jì)可擴(kuò)展多路光源，例如超連續(xù)白光激光器，皮秒脈沖激光器，半導(dǎo)體激光器，鹵素?zé)簦療舻?，滿足不同探測(cè)器測(cè)試功能的要求。是微納器件研究的優(yōu)選。

產(chǎn)品特點(diǎn)及優(yōu)勢(shì)：

l                      光源可選氙燈光源、超連續(xù)白光光源、連續(xù)激光器、皮秒脈沖激光器

l                      制冷樣品臺(tái)溫度范圍-196℃-600℃（-196攝氏度需要選擇專用冷卻系統(tǒng)）

l                      示波器采樣率可達(dá)5GS/S，記錄長(zhǎng)度10M

l                      可以引入可調(diào)單色光源，進(jìn)行全光譜范圍的光譜響應(yīng)度測(cè)試

產(chǎn)品應(yīng)用：

l                      光譜響應(yīng)度

l                      外量子效率

l                      單色光/變功率IV

l                      不同輻照度IT曲線（分辨率200ms）

l                      不同偏壓下的IT曲線

l                      LBIC，Mapping

l                      線性度測(cè)試

l                      響應(yīng)速率測(cè)試

微納器件光譜響應(yīng)度測(cè)試系統(tǒng)主要技術(shù)指標(biāo)：

低維材料（如石墨烯、碳納米管、二氧化鎢、過(guò)渡金屬硫化物等）因其光電特性而受到廣泛關(guān)注。這些材料的光電測(cè)試是為了評(píng)估它們?cè)陔娮悠骷?、光電子器件和存?chǔ)器等方面的應(yīng)用潛力。